<div dir="ltr"><div style="padding:20px 0px 0px;font-size:0.875rem"><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:small">Prezados,</span><br></font></div><div style="padding:20px 0px 0px;font-size:0.875rem"><span style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:small">dando continuidade ao Ciclo de Palestras do Programa de Pós-Graduação em Estatística do IM-UFRJ, </span><span style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:small"> <b>excepcionalmente </b></span><b style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:small">na próxima 3a feira, 08/11/2022, às 15:30</b><span style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:small">, teremos a palestra do professor:</span><br></div><div><br></div><div><br></div><div><div><font color="#000000" face="arial, sans-serif"><b>Palestrante: Guilherme Veloso (IME-UFF)</b></font></div><div><div dir="ltr" style="font-family:"Helvetica Neue",Helvetica,Arial,sans-serif;font-size:13px"><b>Título: Modelo Gama multivariado dinâmico: uma abordagem geral para dados de degradação<span style="color:rgb(0,0,0)"> </span></b></div><div dir="ltr" style="font-family:"Helvetica Neue",Helvetica,Arial,sans-serif;font-size:13px"><div dir="ltr" style="color:rgb(0,0,0)"><br clear="none"><div style="margin-bottom:0cm;text-align:justify;line-height:normal;background-image:initial;background-position:initial;background-size:initial;background-repeat:initial;background-origin:initial;background-clip:initial"><span style="font-family:Helvetica,sans-serif">A confiabilidade de sistemas altamente confiáveis pode ser avaliada indiretamente por meio de mecanismos de degradação. A taxa na qual os dispositivos se degradam está diretamente associada com o tempo de uso e a qualidade dos materiais que os dispositivos são produzidos. Apresentamos um novo modelo geral de degradação, modelado por uma distribuição gama com  uma estrutura dinâmica para o verdadeiro caminho de degradação. O modelo proposto considera que a taxa de degradação é uma função de dois efeitos aleatórios: um para quantificar as características específicas de cada unidade e outro componente dinâmico medindo o impacto do ambiente comum. A relação entre a degradação e o tempo de falha é obtida permitindo uma aproximação por métodos MCMC da distribuição do tempo de falha. A metodologia proposta é utilizada para analisar dois bancos de dados recorrentes da literatura em confiabilidade. Os resultados mostram que o modelo proposto é uma abordagem competitiva para prever o tempo de falha e, consequentemente, estimar a vida útil remanescente dos dispositivos.</span></div></div></div><div><br></div><div><span style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:13px">Esta palestra ocorrerá<b> </b></span><span style="color:rgb(0,0,0);font-family:arial,sans-serif;font-size:13px">de <b style="text-decoration-line:underline">forma presencial na terça-feira 08/11</b> às 15:30h na sala C116 do bloco C, do Centro de Tecnologia, Ilha do Fundão da Universidade Federal do Rio de Janeiro.</span><br></div><div><div><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:13px"><br></span></font></div><div><font color="#000000" style="font-family:arial,sans-serif">Palestras disponíveis no YouTube: </font><a href="https://www.youtube.com/channel/UCoLTqHW20Ne1qFYL2xYJOcg" target="_blank" style="font-family:arial,sans-serif"><h3 style="display:inline">Ciclo de Palestras Estatística UFRJ - YouTube</h3></a><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:13px"><br></span></font></div><div><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:13px"><br></span></font></div><div><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:13px">abs</span></font></div><font color="#888888"><div><font face="arial, sans-serif" color="#000000"><span style="font-size:13px">viviana</span></font></div></font></div></div></div><div><br></div>-- <br><div dir="ltr" class="gmail_signature" data-smartmail="gmail_signature"><div dir="ltr"><div><br></div><div><br></div><div><img src="http://www.r-project.org/conferences/useR-2010/pics/useR-large.png" width="96" height="46"></div><div><br></div><div><br></div></div></div></div>